高頻數字電橋 發布時間：2024-10-25 15:04:02
在電子元件測試領域，高頻數字電橋 HIOKI 3535 以其出色的性能為眾多企業提供了可靠的測試手段。然而，為了確保測試結果的準確性和可靠性，專業的實驗室測試服務不可或缺。金鑒實驗室作為國內領先的光電半導體失效分析科研檢測機構，能夠提供各類電子元件的測試分析，其在與 HIOKI 3535 等先進測試設備的配合使用方面積累了豐富的經驗，能夠為企業提供全面、精準的測試服務，助力企業在電子元件品質把控上達到更高水平。
1. 設備型號
LCR測試儀 HIOKI 3535
2. 圖片展示
圖 1 LCR 測試儀 HIOKI 3535
3. 功能介紹
LCR測試儀3535測試|Z|, L, C, R
測試源頻率100kHz～120MHz
高速測量: 6ms
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標準元件提供補償的“負載補償功能
3535LCR測試儀通過I/O接口可從外部控制觸發、鍵盤鎖開/關、以及測量條件的裝載。而且比較結果、測量完成等可以輸出，可應用于自動化生產線。
金鑒實驗室作為國內領先的光電半導體失效分析科研檢測機構，實驗室擁有一支由國家級人才工程入選者和資深技術專家組成的團隊，以及先進的檢測設備，確保了測試結果的準確性和可靠性。
4. 執行標準
IEEE STD 488.1-2003
5. 適用樣品
金鑒實驗室提供全面的材料測試服務：
可測試0402、0603及0805封裝的貼片電感、電容、電阻。金鑒實驗室具備專業團隊和先進的測試設備能夠滿足您在電子元件測試方面的各種需求。
6. 設備技術參數
圖 2 HIOKI 3535測試儀技術參數
7. 應用分析案例
金鑒實驗室不僅能夠提供標準的測試服務，還能根據客戶需求，依據不同封裝和類型元件的特點，制定個性化的測試方案。
測試容值為6.8pF封裝為0805的電容。
圖 3 測試電容
金鑒實驗室致力于為電子元件行業提供高質量的測試服務，推動行業技術的不斷進步。相信在未來的發展中，金鑒實驗室將為企業提供更加優質、高效的測試服務，助力電子元件產業邁向更高的質量水平。
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