高壓蒸煮試驗加速測試（HAST） 發布時間：2020-12-10 11:49:51
一、HAST目的
高壓蒸煮試驗即為高溫，高濕，高氣壓測試，是用高加速的試驗方式評價電子產品耐濕熱的能力。金鑒實驗室可提供高壓蒸煮試驗服務，應用于電子產品質量評估、失效分析、可靠性測試等。
二、測試范圍
溫度范圍：105~142.9℃
濕度范圍：75%~100%RH
壓力范圍：0.02~0.186Mpa
三、測試標準
《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）》 GB/T 4937.4-2012
《高加速濕熱應力試驗》JESD22-A110D-2010
《非氣密固態表面貼裝器件 潮濕/再流焊敏感度分級》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008
四、案例分享
客戶委托送測LED燈珠，要求進行高壓蒸煮實驗，評估燈珠試驗后是否存在剝離、膠裂異常。
樣品放入 PCT 試驗箱內
測試前 72小時高壓蒸煮試驗后
測試前 96小時高壓蒸煮試驗后
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