激光器顯微光熱分布測試 發布時間：2024-11-14 17:56:13
一、簡介
金鑒實驗室自研顯微光熱分布測試系統，致力于為光電行業提供高精度的激光光斑測試解決方案。
金鑒實驗室自研顯微光熱分布測試系統
激光光斑是指激光束在空間中的分布形態。在激光器輸出后，激光束會聚焦形成一個小而亮的光斑。激光光斑的形態可以是圓形、橢圓形或其他形狀，它取決于激光器的輸出模式以及透鏡或其他光學元件的干涉和衍射效應，光斑的形態和特性會隨著傳播距離的變化而改變。
金鑒顯微光分布測試系統針對LED、LD及其他光電器件產業打造，可用于觀察微米級發光器件的光分布，測試波長范圍190nm ～1100nm，包含了紫外和紅外不可見光的測試，可用于測量光源的光強分布、直徑、發散角等參數。通過CCD測量光強分布，通過算法計算出光源直徑等參數，測量光強的相對強度，不需要使用標準燈進行校準。適合光電器件及照明相關領域的來料檢驗、研發設計和客訴處理等過程，以達到企業節省研發和品質支出的目的。
金鑒顯微熱分布測試系統已演化到第四代：配備20um的微距鏡，可用于觀察芯片微米級別的紅外熱分布；通過軟件算法處理，圖像的分辨率高達5um，能看清芯片晶道；高低溫數顯精密控溫系統，可以模擬芯片工作溫度；區域發射率校準軟件設置，以達到精準測溫度的目的；具備人工智能觸發記錄和大數據存儲功能，適合電子行業相關的來料檢驗、研發檢測和客訴處理，以達到企業節省20%的研發和品質支出的目的。
二、測試案例
案例1、選iPhone 13 Pro激光雷達中的VCSEL芯片其中一個電極通道，在10mA直流模式下，使用金鑒自研的顯微光分布測試系統進行觀察，可得到清晰的光斑輪廓，比較單孔光分布和高速相機下抓拍激光模組投射的點陣圖案，可以觀察到單個出光孔光斑為正六邊形。
案例2、日亞半導體激光器顯微光分布分析
使用金鑒自研的顯微光分布測試系統可以測量半導體激光器近場光分布，通過對日亞半導體激光器發光近場光分布的測量可以得到半導體激光器的出光位置、有源區發光的均勻性以及電流擴展均勻性等信息，對評估半導體激光器光學性能具有重要意義。
案例3、日亞半導體激光器顯微熱分析
使用金鑒實驗室自研的顯微熱分布測試系統可以分析半導體激光器的封裝熱特性以便加強熱管理，提高器件的可靠性和穩定性。金鑒實驗室的專業技術人員將為您提供全面的熱特性分析，確保您的產品在市場競爭中保持優勢。
案例四、使用金鑒自研顯微熱分布測試系統對iPhone 13 Pro激光雷達中的VCSEL芯片進行測試，在不同直流模式電流下，芯片表面溫度分布如圖所示?？梢钥闯?，芯片沒有電極覆蓋區域溫度最高。
金鑒實驗室的專業服務不僅限于測試和認證，還包括失效分析、技術咨詢和人才培養，為客戶提供一站式的解決方案。
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