LED芯片漏電點鑒定 發布時間：2016-03-01 09:19:36
服務客戶：LED芯片廠、LED封裝廠
鑒定設備：激光掃描顯微儀
作為一種新型的高分辨率微觀缺陷定位技術，能夠在大范圍內迅速準確地進行器件失效缺陷定位，基本上，只要有LED芯片異常的漏電，它都可以產生亮點出來。
原理：用激光束在通電恒壓下的LED芯片表面進行掃描，激光束部分能量轉化為熱能，如果LED芯片存在缺陷點，缺陷處溫度將無法迅速通過金屬線傳導散開，這將導致缺陷處溫度累計升高，并進一步引起金屬線電阻以及電流變化，通過變化區域與激光束掃描位置的對應，定位缺陷位置。該方法常用于LED芯片內部高阻抗及低阻抗分析，芯片漏電路徑分析。
案例分析：某客戶送來一款漏電的LED燈珠，委托金鑒查找原因。金鑒用光學顯微鏡，X射線透視儀，掃描電鏡，掃描超聲波等檢測設備排除其他原因后，最后用激光掃描顯微儀，經過激光局部加熱后，找出阻值變異最大的地方，也就是電流變異最大的所在，下圖為標注了此芯片的漏電點。
注：漏電點下面可能是空洞，界面缺陷，如若確定那一層芯片制程問題，需做FIB進一步解剖。
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