廣東金鑒實驗室科技有限公司
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1.失效分析、可靠性、AEC-Q系列認證、FIB-TEM、近場光學 金鑒張工:18811843699(微信同號)
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透射電鏡(TEM)聚焦離子雙束顯微鏡(FIB-SEM)場發射電鏡(FESEM)鎢燈絲電鏡電子背散射衍射(EBSD)超景深顯微鏡原子力顯微鏡(AFM)顯微紅外光譜儀(Micro FTIR)金相顯微鏡微光顯微鏡(EMMI)X光檢查儀超聲波掃描顯微鏡(SAM)X射線能譜儀(EDS)
設備 | 型號 |
---|---|
SEM掃描電鏡 | Hitachi 3400N |
X射線能譜儀EDS | Horiba 7021-H |
SEM制樣 | Hitachi E-1010, 蔚儀MP-2B |
X-RAY X射線透視機 | Dage 6600 |
氬離子拋光/切割 | Gatan 693 |
激光掃描顯微儀 | BANES 1640 |
切片分析 | WY-101 |
TEM透射電鏡 | JEOL-2100F |
TEM制樣 | Gatan 691 |
SIMS二次離子質譜 | Cameca 6f |
FIB聚焦離子束顯微鏡 | Zeiss Auriga Compact |
AFM原子力顯微鏡 | Bruker(原veeco) Dimension Edge |
IR紅外熱像 | FTIL T600 |
立體顯微鏡 | WY-101 |
金相分析 | Zeiss Axio Lab.A1 MAT |
C-SAM超聲波掃描 | Sono Scan D6000 |
XRF X熒光光譜分析儀 | |
可見分光光度計 | SP-723PC |
熱阻及導熱系數測試設備 | LW-9389 |