CAF/SIR測試系統 發布時間：2024-12-12 11:42:17
金鑒實驗室憑借其先進的設備和專業的技術團隊，能夠為客戶提供CAF/SIR測試服務，確保您的產品在市場競爭中保持領先。
1.圖片展示
CAF/SIR測試系統
2.適用樣品
PCB和FPC
3.依據標準
IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL
IEC 61189-5:2006 Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 5: Test methods for printed board assemblies
ISO-9455-17 Soft soldering fluxes - Test methods - Part 17:Surface insulation resistance comb test and electrochemical migration test of flux residues
金鑒實驗室嚴格遵循相關標準，確保每一項測試都符合國際規范，為客戶提供可靠的測試結果，幫助企業提升產品質量和市場競爭力。
4.測量范圍
通道數: 256通道
測試組數:4組(64通道/組)
工作時間: 1～9999小時
偏置電壓: -100～+1000VDC
共負極測試(可選):具備
測試電壓: 1.0～99.9VDC(0.1V步進)；100V～1000V(1.0V步進)
電壓上升階梯: 50V(〉100V)
測試電壓精度: ±0.1V(1.0～99.9VDC)；±1.0V(100～1000VDC)
電阻測量范圍: 1×106~1×1014Ω
電阻測試速度: 標準模式3.5秒/通道(典型)；256通道≤10分鐘
實時電流監測范圍: 0.1μA～500μA
實時電流檢測速度: 10次/通道
測試間隔時間: 5分鐘～600分鐘
測試電壓穩定時間: 1秒鐘～600秒鐘
限流保護電阻: 1MΩ
測試電纜: 特氟綸(≥10*0,200℃)；標配3.0m測試線
UPS保護時間: 30分鐘
外形尺寸: 1800×600×1000(mm) (高×寬×深)
設備凈重: 約350kg
供電電壓: 交流220V±10%，50Hz
在金鑒實驗室，我們的測試系統具備廣泛的溫度測量范圍，能夠滿足不同產品的測試需求，幫助客戶在產品開發階段提前識別潛在問題。
5.檢測項目
CAF（導電性陽極絲）
SIR（表面絕緣阻抗）
金鑒實驗室作為一家專注于光電半導體失效分析的科研檢測機構，在CAF和SIR方面擁有豐富的經驗和卓越的技術實力。實驗室配備了先進的測試設備和嚴格的質量控制流程，能夠為客戶提供高標準的測試服務。
6.應用實例
測試監控界面
金鑒實驗室的團隊由國家級人才工程入選者和行業資深管理和技術專家組成，他們在光電半導體材料和器件工廠有著豐富的工作經驗，能夠提供從產品研發設計到質量評估、可靠性驗證的一站式解決方案。
