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失效分析
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破壞性物理分析(DPA) 發布時間:2024-04-07 14:32:37

一、為什么選擇金鑒實驗室做破壞性物理分析(DPA)?

金鑒實驗室是您可信賴的合作伙伴,提供專業的破壞性物理分析(DPA)服務,幫助您驗證產品質量、改進產品設計和確保合規性。


金鑒實驗室的破壞性物理分析(DPA)服務涵蓋樣品物理測試、化學測試、材料性能測試、失效分析以及結果分析和報告,為您提供全面的分析解決方案。


我們的專業團隊擁有豐富的經驗和技術,配備先進的設備和儀器,嚴格遵循標準化的DPA流程,確保測試過程準確、可靠。無論您是在制造業、電子行業還是材料科學領域,金鑒實驗室都能為您提供定制化的DPA方案,幫助您驗證產品性能、改進產品設計、解決問題并確保產品合規性。


選擇金鑒實驗室的DPA服務,讓我們攜手合作,助您提升產品質量、競爭力和市場認可度。聯系我們,讓我們共同為您的產品質量保駕護航!


二、什么是破壞性物理分析(DPA)?

DPA是一種重要的質量控制和問題解決工具,可以幫助企業確保產品質量、符合性和可靠性,提高競爭力并滿足客戶需求。在許多情況下DPA都是必要的,主要基于以下幾個原因:

1.驗證產品質量和性能:DPA可以驗證產品的質量、性能和可靠性,確保其符合設計要求和標準。通過對樣品進行物理、化學和力學測試,可以評估產品的結構完整性、材料組成、強度、耐久性等關鍵特性。

 

2.問題診斷和故障分析:當產品出現故障或質量問題時,DPA可以幫助確定問題的根本原因。通過對受損樣品進行分析,可以確定可能的失效機制、材料缺陷或生產工藝問題,從而采取相應的措施進行修復和改進。

 

3.產品改進和優化:DPA可以提供有關產品設計和制造過程的重要信息,幫助改進和優化產品性能、耐用性和成本效益。通過識別問題和弱點,可以進行相應的改進,提高產品質量和競爭力。

 

4.合規性和認證要求:在一些行業中,產品必須符合特定的法規、標準和認證要求。通過DPA,可以驗證產品是否符合這些要求,并生成必要的測試報告和證明文件,以獲得認證和合規性標志。

 

5.供應鏈管理:DPA可以用于對供應鏈中的原材料和零部件進行質量控制和評估。通過對供應商提供的樣品進行分析,可以確保所采購的材料和部件符合質量標準和規格要求。


三、什么樣品適合做破壞性物理分析(DPA)?

DPA適用于各種類型的器件和材料,特別是那些對其性能和可靠性要求較高的產品。幾乎所有需要驗證產品質量、性能和可靠性的器件和材料都適合做DPA。根據具體的應用需求和分析目的,可以選擇合適的DPA方法和技術進行分析。以下是一些適合進行DPA的常見器件和材料:

 

1.電子器件:包括集成電路(IC)、芯片、晶體管、電容器、電感器、電阻器等。DPA可以用于驗證這些器件的內部結構、材料組成、焊接質量、封裝完整性等。

 

2.電子元件:比如電池、傳感器、連接器等。DPA可以幫助評估這些元件的內部結構、材料性能、連接方式等,確保其符合設計要求和性能指標。

 

3.機械零件:如機械傳動件、結構件、金屬件等。DPA可以用于評估這些零件的材料性能、制造質量、表面處理等,以確保其強度、耐久性和可靠性。

 

4.航空航天器件:包括航空航天電子器件、發動機零部件、航天器結構件等。由于航空航天領域對產品性能和可靠性的嚴格要求,DPA在這些器件的開發和制造過程中尤為重要。

 

5.醫療器械:比如醫用傳感器、植入式設備、手術工具等。DPA可以用于評估這些器械的材料安全性、制造質量、結構完整性等,確保其符合醫療行業的法規和標準要求。

 

6.材料樣品:比如金屬、塑料、陶瓷、復合材料等。DPA可以用于對這些材料的組織結構、成分分析、性能測試等,以評估其適用性和質量。

 

四、破壞性物理分析(DPA)的檢測標準和檢測項目

檢測標準:

GJB 40247A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法

GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序

GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法

GJB 360A-96 電子及電氣元件試驗方法

QJ 1906A-96 半導體器件破壞性物理分析(DPA)方法和程序

MIL-STD-883G 微電子器件試驗方法和程序

MIL-STD-1580B 電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析

MIL-STD-750D 半導體分立器件試驗方法

EIA-469-C 高可靠多層陶瓷電容器破壞性物理分析方法

 

檢測項目:

無損部分(非破壞性)

有損部分(破壞性)

外部目檢
X-RAY檢測
PIND檢測
密封
引出端強度
聲學顯微鏡檢查

內部氣體成分分析
內部目檢
SEM
鍵合強度
剪切強度
制樣鏡檢
接觸件檢查
壓接試驗
粘接強度
物理檢查

檢查出來的標準缺陷,為可篩選缺陷,可通過對整批產品進行針對性檢驗篩選剔除有缺陷的元器件。

檢查出來的標準缺陷,為不可篩選缺陷,檢出缺陷是否批次性,必須對缺陷的種類認真分析后才能確定整批器件可否使用。



檢測流程:

DPA流程圖.jpg





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